恩智NGI N8100系列超級電容全參數測試儀

支持超級電容全參數測試

N8100A多通道充放電測試儀，提供超級電容全參數測試多種測試方法，用戶(hù)可根據需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶(hù)可根據測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結果可方便存儲和導出。導出格式可支持數據庫、EXCEL、JPG文件。適用于超級電容器研發(fā)、生產(chǎn)與品質(zhì)檢測。

產(chǎn)品特點(diǎn)

 ■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR、漏電流，自放電等全參數測試

       ■  電流范圍：0-1A/10A，電壓范圍：0-6V

       ■  3U機框可容納30通道，超高空間利用率

       ■  采樣&通訊間隔可設，最小可低于10ms，測量結果更準確

       ■  每通道對應狀態(tài)指示燈，分選更方便

       ■  強大的數據存儲與分析功能

       ■  百兆以太網(wǎng)通訊

功能與優(yōu)勢

容量測量

       N8100可測量超級電容容量參數，含充電容量和放電容量。 測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進(jìn)行充（放）電， 在充（放）電過(guò)程中記錄時(shí)間和電壓參數，通過(guò)計算充（放） 電過(guò)程中電壓對時(shí)間的斜率計算容量。用戶(hù)可根據IEC等各 種測量標準自行選擇電壓、時(shí)間參數進(jìn)行計算。

直流內阻(DCIR)測試  

      N8100可通過(guò)重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電 過(guò)程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線(xiàn)。通 過(guò)分析參數衰減曲線(xiàn)，用戶(hù)可獲取超級電容在不同應用環(huán)境 下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽 命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節的改善。

壽命測試

      N8100可通過(guò)重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過(guò)程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線(xiàn)。通過(guò)分析參數衰減曲線(xiàn)，用戶(hù)可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節的改善。

四線(xiàn)制測量功能

      超級電容測試過(guò)程中需要輸出較大電流，測試線(xiàn)將會(huì )引入較大電壓降（線(xiàn)損），影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線(xiàn)制接線(xiàn)方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線(xiàn)線(xiàn)損帶來(lái)的電壓誤差，從而確保測量精度。

測試夾(治)具

      考慮到不同規模的測試應用場(chǎng)景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶(hù)選擇：開(kāi)爾文夾、12通道專(zhuān)用治具。兩種測試夾（治）具均為四線(xiàn)制接法。

測試軟件

(1) N8100測試軟件采用平臺化設計，用戶(hù)可根據工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類(lèi)Office界面風(fēng)格，各通道獨立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結果等諸多元素，使得這款專(zhuān)業(yè)軟件在具備強大測試功能同時(shí)，兼具美觀(guān)易用優(yōu)點(diǎn)。

(3) 設計有功率限制電路，反應時(shí)間極短，可有效保護負載不會(huì )因為過(guò)功率而損壞。

(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。

應用領(lǐng)域

產(chǎn)品尺寸

恩智NGI N8100系列超級電容全參數測試儀